原子力显微镜 -d8898

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原子力显微镜
产品类别: 原子力显微镜
产品介绍: 一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
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     bruker dimension® icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了新的afm应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。 仍然以市面上应用广泛的afm大样品平台为基础,齐集 dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行革新。 全新的系统设计,实现了低漂移和低噪音水平, 现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。 dimension icon还配备了bruker专利技术scanasyst™(专利号:us008739309b2   us008646109b2) (自动成像参数优化技术) ,用户可以更简易、更快捷地获得重复性更好的数据, 并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。 作为目前配置高的afm,保证客户高效完成所需的检测任务。


终极性能
 独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的afm具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有高的扫描分辨率。
 极大地降低噪声水平,接触模式下可获得原子级图像,在轻敲模式下低于30pm
 热漂移速率低于200pm/分钟,真正获得无曲图像无以伦比的效率

 xyz闭环扫描器的新设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率。
 将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的nanoscope® 软件带有默认的实验模式。
 高分辨率相机和x-y定位可快速、高效地找到样品测量位置


优秀的多功能性
 针尖和样品之间的开放式空间,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求
 硬件和软件技术方面的不断创新,新开发的harmonix模式,可以测量纳米尺度上材料性质
 用户实用程序脚本提供半自动测量和数据分析


功能

材料成像:
icon支持bruker专利技术peakforce qnm™成像模式,研究者在获得高分辨率形貌图像的同时, 还可以对样品进行纳米定量力学性能测试,同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广 (模量从1mpa到50gpa,粘附力从10pn到10μn), 可以对不同类型的样品进行表征。

电学表征:
专利模式,可以以更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来,比如dark lift,可在扫描电容显微镜,扫描扩散电阻显微镜,扭转共振隧道电流原子力显微镜中获得真正的无假象数据。

纳米操纵:
可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。icon的 xyz闭环扫描器可实现无压电蠕变效应和超低噪音的精密探针定位,适用于任何纳米操纵系统。

加热和冷却:
使用afm不同模式扫描的同时,可实现–35°c到 250°c的温度控制和热分析。使用热探针可以在小于100nm的样品局部加热,达400°c 。