bruker dimension® icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了新的ａｆｍ应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。 仍然以市面上应用广泛的afm大样品平台为基础，齐集 dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行革新。 全新的系统设计，实现了低漂移和低噪音水平， 现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。 dimension icon还配备了bruker专利技术scanasyst™(专利号：us008739309b2 us008646109b2) （自动成像参数优化技术） ，用户可以更简易、更快捷地获得重复性更好的数据， 并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。 作为目前配置高的afm，保证客户高效完成所需的检测任务。
终极性能
独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的afm具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有高的扫描分辨率。
极大地降低噪声水平，接触模式下可获得原子级图像，在轻敲模式下低于30pm
热漂移速率低于200pm/分钟，真正获得无曲图像无以伦比的效率
xyz闭环扫描器的新设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率。
将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的nanoscope® 软件带有默认的实验模式。
高分辨率相机和x-y定位可快速、高效地找到样品测量位置
优秀的多功能性
针尖和样品之间的开放式空间，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求
硬件和软件技术方面的不断创新，新开发的harmonix模式，可以测量纳米尺度上材料性质
用户实用程序脚本提供半自动测量和数据分析
功能
材料成像:
icon支持bruker专利技术peakforce qnm™成像模式，研究者在获得高分辨率形貌图像的同时， 还可以对样品进行纳米定量力学性能测试，同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广 (模量从1mpa到50gpa，粘附力从10pn到10μn)， 可以对不同类型的样品进行表征。
电学表征：
专利模式，可以以更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来，比如dark lift，可在扫描电容显微镜，扫描扩散电阻显微镜，扭转共振隧道电流原子力显微镜中获得真正的无假象数据。
纳米操纵：
可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。icon的 xyz闭环扫描器可实现无压电蠕变效应和超低噪音的精密探针定位，适用于任何纳米操纵系统。
加热和冷却：
使用afm不同模式扫描的同时，可实现–35°c到 250°c的温度控制和热分析。使用热探针可以在小于100nm的样品局部加热，达400°c 。